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導(dǎo)言:
薄晶片已經(jīng)成為各種新型微電子產(chǎn)品的基本需求。其中包括用于射頻識別系統(tǒng)的功率器件、分立半導(dǎo)體、光電元件和集成電路。除了向堆疊管芯組件的轉(zhuǎn)移之外,垂直系統(tǒng)集成和微機電系統(tǒng)器件中的新概念要求晶片厚度減薄到小于150米。
機械研磨是最常見的晶圓減薄技術(shù),因為其減薄速率高。商業(yè)上可獲得的研磨系統(tǒng)通常使用兩步工藝,首先以非常高的速率(5 m/sec)進行粗研磨,然后以降低的速率進行后續(xù)的細研磨工藝。
實驗性:
實驗是在SSEC 3300系統(tǒng)上進行的。在蝕刻過程中,有許多工藝參數(shù)可以改變。為了這個研究的目的,使用了單一的蝕刻化學(xué)物質(zhì)。溫度、流速、分配曲線、旋轉(zhuǎn)速度和室排氣是可以通過工藝步驟編程的參數(shù)。我們希望關(guān)注對工藝影響最大的工具參數(shù),因此選擇了溫度、旋轉(zhuǎn)速度和流速。
所使用的化學(xué)物質(zhì)是氫氟酸、硝酸、硫酸和磷酸的混合物,并且作為旋蝕刻劑在市場上可以買到。化學(xué)物質(zhì)的再循環(huán)使用SSEC的開放式或封閉式收集環(huán)技術(shù)進行。

圖1:蝕刻過程中的SSEC收集環(huán)和液流分配
采用JMP軟件進行三因素三水平的Box-Behnken響應(yīng)面試驗設(shè)計。
測量的響應(yīng)是蝕刻速率、TTV和表面粗糙度? ?略
結(jié)果????略
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